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본 게시글은 KUEE 정보공개 프로젝트에 포함된 글입니다.
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I. 실험 목적

BJT(Bipolar Junction Transistor) 소자의 문턱 전압을 측정한다.

의 변화가 에 미치는 영향을 측정한다.

를 측정 및 결정한다.

npnBJT의 컬렉터() 특성 곡선군을 실험적으로 결정하고 그래프로 그린다.

점 대 점 방법(point-by-point)을 이용하여 BJT의 평균 컬렉터 특성 곡선 군을 관측한다.

 

5주차.pdf
0.39MB

 

 

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@유호건

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